روشی جدید برای اندازه گیری زمینه های نانو ساختاریافته نور ارائه شد

محققان آلمانی با ارائه فناوری پرتونگاری نانویی توانستند ویژگی‌های نامرئی معمولی زمینه‌های نانو را در کانون لنز‌ها بدون نیاز به تجزیه پیشرفته روش‌ها یا پردازش داده‌ها تشخیص دهند.

محققان آلمانی با ارائه فناوری پرتونگاری نانویی توانستند ویژگی‌های نامرئی معمولی زمینه‌های نانو را در کانون لنز‌ها بدون نیاز به تجزیه پیشرفته روش‌ها یا پردازش داده‌ها تشخیص دهند.

روشی جدید برای اندازه گیری زمینه های نانو ساختاریافته نور ارائه شد

منبع  : خبرگزاری دانشجو

برای مشاهده متن کامل خبر کلیک کنید

اشتراک‌گذاری

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *