استاندارد ملی شماره ۱۷۹۳۳ با عنوان «فناوری نانو – تعیین ناخالصیهای عنصری در نمونههای نانولولههای کربنی با استفاده از طیف سنجی جرمی پلاسمای جفت شده القائی» مورد تجدیدنظر قرار گرفت.
محققان روشی برای تولید نوعی لایه نازک ارائه کردند که اصطکاک را به میزان قابل توجهی کاهش میدهد، چنین لایههای نازکی در نانوالکترونیک بسیار کاربرد دارد.