به گزارش گروه دانشگاه خبرگزاری دانشجو، شرکت بروکر (Bruker) از ارائه طیف سنجی مادون قرمز نانومقیاس Dimension IconIR and و سیستم تصویربرداری شیمیایی خود خبر داد. این فناوری ترکیبی از Dimension Icon® AFM و فناوری AFM-IR فتوترمال nanoIR™ برای ایجاد استانداردهای جدید در نقشه برداری از ویژگیهای مواد شیمیایی با وضوح تصویربرداری شیمیایی زیر ۱۰ نانومتر است.
این پلتفرم جدید که شامل حالت PeakForce Tapping® منحصر به فرد بروکر است، کاملترین راه حل میکروسکوپی مرتبط را برای کمیسنجی نانوشیمیایی، نانومکانیکی و نانوالکتریک ارائه میدهد. در نهایت، IconIR انعطافپذیری و کاربرد بیشتری را برای تحقق اهداف تحقیقاتی پیشگامانه در طیف وسیعی از کاربردهای حوزه پلیمر، زمین شناسی، نیمه هادی و علوم زیستی فراهم میکند.
الکساندر دازی، استاد دانشگاه پاریس-ساکلی، و مخترع روش AFM-IR میگوید: «برای اولینبار، IconIR مرا قادر میسازد تا طیف سنجی nanoIR و وضوح تصویربرداری شیمیایی زیر FM-IR نمیتوان وارد آن حوزهها شد و کاربران را قادر میسازد تا مطالعات دقیقتری را برای درک بهتر ساختار و ترکیب مواد انجام دهند. در محصولات nanoIR سیستم Dimension IconIR با تکیه بر فناوری AFM-IR، ویژگیهای نانومقیاس قابل مطالعه بوده و وضوح تصویربرداری شیمیایی را در حد ۱۰ نانومتر میرساند.»
Dimension IconIR ترکیبی از طیفسنجی IR و طیفسنجی میکروسکوپ روبشی (SPM) است که چندین دهه تحقیق و نوآوری برای ارائه حداکثر عملکرد و قابلیت در طیفسنجی مادون قرمز نانومقیاس را در بر میگیرد. در یک سیستم واحد، IconIR بالاترین عملکرد را برای طیفسنجی مادون قرمز در مقیاس نانو، وضوح تصویربرداری شیمیایی و حساسیت تکلایه ارائه میدهد.